[发明专利]一种高准确度非整周期采样谐波分析测量方法有效

专利信息
申请号: 200910237206.5 申请日: 2009-11-05
公开(公告)号: CN101900761A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 金海彬;吴静;郝婷婷 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 闫强
地址: 100080 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 为了获得高准确的谐波测量结果,本发明提供了一种谐波测量方法,对被测量信号进行采样,对采样结果进行DFT或FFT处理,得到离散频谱,从离散频谱中选取若干谱线修正长范围频谱泄漏、短范围频谱泄漏、负频点泄漏等造成的测量误差,得到高准确度的谐波测量结果。本发明可应用于谐波的精密测量领域。
搜索关键词: 一种 准确度 周期 采样 谐波 分析 测量方法
【主权项】:
1.一种高准确度非整周期采样谐波分析测量方法,包括:A、对包含谐波的被测量信号进行采样的步骤,和B、对得到的采用样本进行DFT或FFT处理的步骤,其特征在于还包括如下步骤:C、从经过步骤B处理得到的离散频谱中选取谱线,选取的规则是:选取谱线的数量为K+1,K为大于1的自然数,K的值为基波数量和要测量的谐波数量之和;选取的谱线为第p1根谱线,第p2根谱线,......,第p(K+1)根谱线,其中p1,p2,…,pK+1为谱线在离散频谱中的序号;第p1根谱线的实部为虚部为第p2根谱线的实部为虚部为第p3根谱线的实部为虚部为......,第p(K+1)根谱线的实部为虚部为第p1根谱线选取离散频谱中谱峰最大的谱线;第p2根谱线选择第p1根谱线两侧紧邻的两根谱线中幅值较大谱线;从第p3根谱线开始直到第p(K+1)根谱线,每根谱线的选取方法是选取对应各谐波的谱峰;或用谐波次数乘以p1得到数值s,离散频谱中的第s根谱线作为选取的相应谱线;D、建立以下矩阵:F=sin(2πp1N)cos(2πp1N)-cos(2πτN)···sin(2πp1N)cos(2πp1N)-cos(2πKτN)Ip1············sin(2πpKN)cos(2πpKN)-cos(2πτN)···sin(2πpkN)cos(2πpKN)-cos(2πKτN)IpKsin(2πpK+1N)cos(2πpK+1N)-cos(2πτN)···sin(2πpK+1N)cos(2πpK+1N)-cos(2πKτN)IpK+1]]>从该矩阵求得τ;E、计算b1,…,bKb1···bK=sin(2πp1N)cos(2πp1N)-cos(2πτN)···sin(2πp1N)cos(2πp1N)-cos(2πKτN)·········sin(2πpKN)cos(2πpKN)-cos(2πτN)···sin(2πpKN)cos(2πpKN)-cos(2πKτN)-1·Ip1···IpK]]>和a1,…,aKa1···aK=sin(2πτN)cos(2πp1N)-cos(2πτN)···sin(2πKτN)cos(2πp1N)-cos(2πKτN)·········sin(2πτN)cos(2πpKN)-cos(2πτN)···sin(2πKτN)cos(2πpKN)-cos(2πKτN)-1·RP1-Σkbk···RPK-Σkbk]]>得到:第k次谐波的频率为第k次谐波的幅值Ak第k次谐波的初相位为
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