[发明专利]用于多位存储的沟槽型非挥发存储器有效

专利信息
申请号: 200910238783.6 申请日: 2009-12-01
公开(公告)号: CN101728394A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 潘立阳;古海明 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 童晓琳
地址: 100084 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了半导体器件及集成电路技术领域中的一种用于多位存储的沟槽型非挥发存储器。包括p型半导体衬底(411)、p型半导体衬底上的p阱(410)、p阱(410)上面的深槽(402)、深槽(402)底部的n型掺杂区(403)、p阱(410)上面深槽(402)一侧的边缘处衬底中的源极区(408)和p阱(410)上面深槽(402)另一侧的边缘处衬底中的漏极区(409);深槽(402)内是由隧穿二氧化硅层(404)、电荷俘获层(405)、绝缘介质层(406)和多晶硅控制栅(407)构成的栅结构。本发明具有功耗低,两比特位间干扰小,编程操作窗口大、操作可靠性好的特点。
搜索关键词: 用于 存储 沟槽 挥发 存储器
【主权项】:
一种用于多位存储的沟槽型非挥发存储器,其特征是所述沟槽型非挥发存储器(401)包括p型半导体衬底(411)、p型半导体衬底上的p阱(410)、p阱(410)上面的深槽(402)、深槽(402)底部的n型掺杂区(403)、p阱(410)上面深槽(402)一侧的边缘处衬底中的源极区(408)和p阱上面深槽(402)另一侧的边缘处衬底中的漏极区(409);所述深槽(402)内是由二氧化硅隧穿介质层(404)、电荷俘获层(405)、绝缘介质层(406)和多晶硅控制栅(407)构成的栅结构;所述电荷俘获层(405)用于俘获电荷;所述绝缘介质层(406)用于阻挡电荷在所述电荷俘获层(405)与所述多晶硅控制栅(407)之间的迁移;所述多晶硅控制栅(407)用于控制源极区(408)和漏极区(409)之间的导通与断开。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910238783.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top