[发明专利]一种利用分布式偏振串扰检测技术改善光纤环质量的方法

摘要

本发明涉及控制和提高保偏光纤环质量的方法，属于光学测量、光纤传感技术领域。该方法包括：将待测光纤环或光纤环用原料光纤进行偏振串扰测量，获得待测光纤环或光纤环用原料光纤相应位置处的偏振串扰强度，根据获得的偏振串扰点位置及偏振串扰强度判定光纤环或光纤环用原料光纤的质量缺陷的位置及缺陷程度；根据光纤环或光纤环用原料光纤各个位置的偏振串扰强度对光纤环或光纤环用原料光纤的质量缺陷的位置处及缺陷程度，改进光纤环缠绕工艺或决定原料光纤的取舍，从而达到控制和提高光纤环的质量的目的。本发明可以高精度、方便、快捷地对光纤环的缺陷分布进行质量测定，有利于实现光纤环的批量生产与检测。

主权项

一种控制和提高保偏光纤环质量的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1)将待测光纤环或光纤环用原料光纤进行偏振串扰测量，获得待测光纤环或光纤环用原料光纤相应位置处的偏振串扰强度，其过程包括：11)向保偏光纤环或原料保偏光纤中射入一束宽频带线偏振光作为输入光，并使该输入光的偏振方向与保偏光纤环的光纤或原料保偏光纤的一个偏振轴重合；12)将光纤环或原料光纤的输出光通过一个检偏器，并使该检偏器的检偏方向与光纤环的光纤或原料光纤的偏振轴方向成一度角α，90°＞α＞0°；13)将通过检偏器的光分成两束，将其中一束光做不同延迟度下的光延迟；14)将没有做延迟的光束和做了延迟的光束进行干涉；15)重复13)～14)对保偏光纤进行分布式扫描，获取不同延迟度对应该光纤环或原料光纤的位置的干涉光的可见度，作为该光纤环或原料光纤的各对应位置的偏振串扰强度；2)根据获得的偏振串扰点位置及偏振串扰强度判定光纤环或光纤环用原料光纤的质量缺陷的位置及缺陷程度；3)根据光纤环或光纤环用原料光纤各个位置的偏振串扰强度对光纤环或光纤环用原料光纤的质量缺陷的位置处及缺陷程度，改进光纤环缠绕工艺或决定原料光纤的取舍，从而达到控制和提高光纤环的质量的目的。