[发明专利]非接触超声热激励红外热成像无损检测方法和系统有效
| 申请号： | 200910244001.X | 申请日： | 2009-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN101713756A | 公开（公告）日： | 2010-05-26 |
| 发明（设计）人： | 陶宁;王迅;曾智;冯立春;张存林;陈大鹏 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72;G01N29/34 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;贺华廉 |
| 地址： | 100037*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种非接触超声热激励红外热成像无损检测系统，用于检测试件，包括超声发射装置，该试件置于该超声发射装置的下方或侧下方；红外热像仪，放置于该试件的周围；计算机，与该红外热像仪相连；超声控制器，连接该超声发射装置和该计算机。一种非接触超声热激励红外热成像无损检测方法，包括如下步骤(1)将被检测试件放置在超声发射装置的超声枪头的下方或侧下方，超声控制器设定所需参数；(2)超声发射装置接收到超声控制器的控制信号后，向试件发射声能；(3)当足够的超声声能耦合进试件，通过红外热像仪连续观测和记录试件表面的温场变化；(4)利用计算机采集红外热像仪得到的数据，进行数据处理和分析，对试件内部缺陷的定量诊断。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 超声 激励 红外 成像 无损 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种非接触超声热激励红外热成像无损检测系统，用于检测试件，其特征在于，包括超声发射装置，该试件置于该超声发射装置的下方或侧下方；红外热像仪，放置于该试件的周围；计算机，与该红外热像仪相连；超声控制器，连接该超声发射装置和该计算机。
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