[发明专利]高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置无效

专利信息
申请号: 200910246457.X 申请日: 2009-11-26
公开(公告)号: CN102081022A 公开(公告)日: 2011-06-01
发明(设计)人: 张旭;张云龙;李树华;项忠霞;陈春;张寅豹;施宇明;郭顺;郭维 申请(专利权)人: 天津出入境检验检疫局
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01M99/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300457 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置,其包括一执行元件和与之相连接的负载,执行元件和负载之间设有控制处理系统,高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与一位移传感器,力传感器分别与执行元件、负载和控制处理系统连接,位移传感器分别与负载和控制处理系统连接,位移传感器为磁滞传感器,力传感器为接触式传感器。相对于高频疲劳试验机控制装置,本发明的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置结构简单,造价低,可靠性高,既可以做力主闭环控制,位移为辅助闭环控制,也可以做位移主闭环控制,力为辅助闭环控制,对整个试验特性更能准确的记录,便于更好的分析被测试件的产品性能。
搜索关键词: 高频 疲劳 试验 位移 闭环控制 装置
【主权项】:
一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置,其特征在于:包括一执行元件和与之相连接的负载,所述执行元件和负载之间设有控制处理系统,所述高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与一位移传感器。
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