[发明专利]质谱分析方法及使用其的质谱仪无效
| 申请号： | 200910247047.7 | 申请日： | 2009-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN101865879A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 盐川善郎;丸山治美;种田康之;中村惠 | 申请（专利权）人： | 佳能安内华股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;H01J49/26 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;李茂家 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及质谱分析方法及使用其的质谱仪。本发明保持来自发射体的稳定发射量。在本发明的实施方案中，加热固体样品或液体样品，从而使包含于所述固体样品或液体样品中的待测对象气化，由此形成中性气相分子，从具有氧化表面的发射体发射的金属离子被附着至所述中性气相分子，从而使进行质谱分析的所述中性气相分子离子化。所述固体样品或液体样品为通过加热放出还原性气体的样品。用于使待测对象气化的加热在低于所述固体样品或液体样品的气化温度但不低于所述待测对象的气化温度的温度下进行，并向所述发射体提供氧化性气体。 | ||
| 搜索关键词： | 谱分析 方法 使用 质谱仪 | ||
【主权项】：
一种用于质谱分析的方法，其包含加热固体样品或液体样品，从而使包含于所述固体样品或液体样品中的待测对象气化并形成中性气相分子，使从具有氧化表面的发射体发射的金属离子附着至所述中性气相分子，从而使所述中性气相分子离子化，由此进行质量分析，其中：所述固体样品或液体样品为通过加热放出还原性气体的样品，和所述用于气化待测对象的加热在低于所述固体样品或液体样品的气化温度但不低于所述待测对象的气化温度的温度下进行，并向所述发射体提供氧化性气体。
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