[发明专利]一种大尺寸晶粒取向的检测方法有效
申请号: | 200910248758.6 | 申请日: | 2009-12-22 |
公开(公告)号: | CN102103093A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | 蒋奇武;金文旭;张海利;付勇军;游清雷;张静;庞树芳 | 申请(专利权)人: | 鞍钢股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G01N23/203 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 114021 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种大尺寸晶粒取向的检测方法,主要包括数据库的建立和储备,通过EBSD技术将晶粒颜色和晶体学数据结合,建立颜色与晶体学数据的对应关系,并记录不同金属材料、不同取向晶粒的腐蚀条件,得到待测的批量样品后,迅速检索数据库,搜索出腐蚀状态,按同样的腐蚀方式腐蚀后,在同一光源条件、同一观察视角条件下,记录晶粒的颜色,与数据库符合条件的取向对应,最终实现快速、批量的晶粒取向检测。本发明采用定量计算晶粒取向表面能和适宜的腐蚀时间,获得固定条件下观察到不同晶粒取向的特殊颜色,与扫描数据库相对应,实现大尺寸多晶体材料取向的快速、批量检测,进而实现材料性能的判断。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺寸 晶粒 取向 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种大尺寸晶粒取向的检测方法,其特征在于建立成品晶粒取向数据库,通过EBSD技术将成品晶粒颜色和晶体学数据结合,建立颜色与晶体学数据的对应关系,并记录对应成品材料的腐蚀条件;检测待测的样品时,先检索数据库,搜索出与其对应的腐蚀条件,按同样的腐蚀方式腐蚀后,在同一光源条件、同一观察视角条件下,记录晶粒的颜色,与数据库相应颜色的取向对应,得到待测样品的取向。
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