[发明专利]以单基色对比度为特征测量轴向位移的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910250910.4 申请日: 2009-12-21
公开(公告)号: CN102102980A 公开(公告)日: 2011-06-22
发明(设计)人: 曾艺;张海明 申请(专利权)人: 重庆工商大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400067 重庆市南*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 以单基色对比度为特征测量沿轴向位移的方法及装置,由一台计算机及其摄像头、一台步进电机、步进电机接口电路以及摄像头轴向位移装置组成,摄像头被安装在轴向位移装置上,由步进电机所驱动,步进电机通过步进电机接口电路连接到计算机的RS232C接口,该计算机配置有摄像头拍摄以及根据单基色对比度测量轴向位移程序。本发明以一种基色帧的对比度作为被测物体图像的特征,通过计算像素亮度的自关联匹配系数,自动分析并选取最佳观察区域,通过计算机的RS232C接口控制步进电机的旋转,进而操作摄像头的运动,通过计数观察窗内图像特征的数目,判断物体成像聚焦的程度,籍此获取微小位移。本测量方法提高了测量速度,避免了其它波长的光照及其变化对测量的影响。
搜索关键词: 基色 对比度 特征 测量 轴向 位移 方法 装置
【主权项】:
以单基色对比度为特征测量轴向位移的方法及装置,包括:一台计算机及其摄像头、摄像头轴向位移装置、一台步进电机以及步进电机接口电路,所述摄像头安装在所述摄像头轴向位移装置上,所述步进电机通过所述步进电机接口电路连接到所述计算机的RS232C接口,其特征在于,所述计算机配置有摄像头拍摄以及根据单基色对比度测量轴向位移程序。
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