[发明专利]以三基色一维对比度为特征测量轴向位移的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910251090.0 申请日: 2009-12-30
公开(公告)号: CN102116605A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 曾艺;林睿;唐玉霞 申请(专利权)人: 重庆工商大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400067 重庆市南*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 以三基色一维对比度为特征测量轴向位移的方法及装置,由一台普通的计算机通过其USB接口连接一个计算机摄像头、一台步进电机及其接口电路以及摄像头轴向位移装置组成,摄像头被安装在轴向位移装置上,由步进电机所驱动,步进电机通过步进电机接口电路连接到计算机的RS232C接口,该计算机配置有摄像头拍摄以及根据三基色一维对比度测量轴向位移程序。本发明以像素三基色的一维对比度作为被测物体图像帧的特征,通过计算像素亮度的自关联匹配系数,自动分析并选取最佳观察区域;通过计数该观察窗区域内图像特征的数目,判断物体成像聚焦的程度,进而测量物体在摄像头光学轴方向所发生的微小位移;本测量方法新颖,能够适应某种程度的环境光照变化。
搜索关键词: 基色 对比度 特征 测量 轴向 位移 方法 装置
【主权项】:
以三基色一维对比度为特征测量轴向位移的方法及装置,包括:一台普通的计算机通过其USB接口连接一个计算机摄像头、一台步进电机及其接口电路,其特征在于,该摄像头被安装在一个由所述步进电机为核心组成的轴向位移装置上,该步进电机通过所述步进电机接口电路连接到所述计算机的RS232C接口,所述计算机配置有摄像头拍摄以及根据三基色一维对比度测量轴向位移程序。
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