[发明专利]以一维三基色峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910251091.5 申请日: 2009-12-30
公开(公告)号: CN102116606A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 曾艺;唐玉霞;林睿 申请(专利权)人: 重庆工商大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400067 重庆市南*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 以一维三基色峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,由一台普通的计算机及其摄像头、一台步进电机及其接口电路以及摄像头轴向位移装置组成。摄像头被安装在一个由高精度微位移步进电机为核心组成的轴向位移装置上,该步进电机通过步进电机接口电路连接到计算机的RS232C接口,计算机配置有摄像头拍摄以及根据一维三基色峰谷数据测量轴向位移程序。通过计算自关联系数,自动分析并选取最佳观察区域;通过计算机RS232C接口控制步进电机的旋转,操作摄像头前进或后退;通过分析并测量图像帧的三种基色沿一个坐标轴方向的峰和谷的数目,以其最多之处作为最佳成像聚焦位置,从而获得轴向相对位移。本测量方法新颖,能够适应某种程度的环境光照变化,测量速度较快。
搜索关键词: 一维三 基色 特征 测量 轴向 位移 方法 装置
【主权项】:
以一维三基色峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,包括:一台普通的计算机通过其USB接口连接一个计算机摄像头、一台步进电机及其接口电路,其特征在于,该摄像头被安装在一个由所述步进电机为核心组成的轴向位移装置上,该步进电机通过所述步进电机接口电路连接到所述计算机的RS232C接口,所述计算机配置有摄像头拍摄以及根据一维三基色峰谷数据测量轴向位移程序。
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