[发明专利]温度调制柱端安培检测电极及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910251267.7 申请日: 2009-12-01
公开(公告)号: CN101726523A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 孙建军;陈启振;陈国南 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种温度调制柱端安培检测电极及其制造方法,其由检测电极和加热装置组成;所述的检测电极为一根导电体,所述的加热装置由加热线圈和直流加热电源组成,所述的加热线圈是由导线折成平行的两条缠绕在所述检测电极上;所述加热线圈与直流加热电源连接。本发明可以通过控制加热电流很容易实现对电极温度的调制,可以完全消除磁场对安培检测的干扰,提高信噪比,增加检测灵敏度并具有极高的重现性和稳定性;而且该加热方式结构简单,容易微型化。
搜索关键词: 温度 调制 安培 检测 电极 及其 制造 方法
【主权项】:
一种温度调制柱端安培检测电极,其特征在于:其由检测电极和加热装置组成;所述的检测电极为一导电体,所述的加热装置由加热线圈和直流加热电源组成,所述的加热线圈是由导线折成平行的两条缠绕在所述检测电极上;所述加热线圈的两端端与直流加热电源连接。
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