[发明专利]辐射度量的水平或密度测量有效
| 申请号： | 200910253639.X | 申请日： | 2009-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN101750132A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 温弗里德·劳尔;约瑟夫·费伦巴赫 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/288 | 分类号： | G01F23/288;G01N9/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈炜;许伟群 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平或密度测量系统，以及一种用于辐射度量地确定介质的水平或者密度的方法。根据本发明的一个实施例，通过借助光电二极管阵列检测由闪烁体产生的闪光来辐射度量地测量罐中介质的水平或者密度。计算相应的电压脉冲的总和，并且在将这些电压脉冲用于确定介质的水平或者密度之前，对这些电压脉冲的关联性进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 度量 水平 密度 测量 | ||
【主权项】：
一种用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平或密度测量系统，其中所述测量系统(100)包括：转换器(101)，用于将透过所述介质的电离第一辐射至少部分转换成电磁第二辐射；光电二极管(102)，用于将所述第二辐射至少部分转换成电压脉冲；以及评估单元(103)，用于基于多个所产生的电压脉冲来确定所述介质的水平或者密度。
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