[发明专利]一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备在审
申请号: | 200910254091.0 | 申请日: | 2003-10-01 |
公开(公告)号: | CN102163434A | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
发明(设计)人: | 朴容徹;金成大 | 申请(专利权)人: | LG电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/004 | 分类号: | G11B7/004;G11B7/006 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 谷惠敏;穆德骏 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备。利用临时缺陷管理区(TDMA)提供了一种一次写入型光盘、一种用于管理该一次写入光盘,例如,BD-WO上的缺陷信息的方法和设备。该方法包括:准备临时缺陷管理区(TDMA),在该临时缺陷管理区上,将临时缺陷列表(TDFL)记录为用于管理光盘上的缺陷区的缺陷管理信息;在临时缺陷管理区上,利用先前的临时缺陷列表累积记录最近临时缺陷列表;以及除了临时缺陷列表,还在临时缺陷管理区上记录用于指出最近临时缺陷列表的位置的位置信息,以更有效地管理临时缺陷列表。 | ||
搜索关键词: | 一次 写入 光盘 以及 用于 理该 缺陷 信息 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种用于管理记录介质的方法,该记录介质包括具有最后缺陷管理区的非数据区并且包括具有用户数据区和空白区的数据区,该方法包括步骤:(a)在分配给非数据区和空白区至少之一的临时缺陷管理区的一个或多个记录单元上记录用于管理存在于所述数据区之中的缺陷区的缺陷列表,并且在所述临时缺陷管理区上记录所述缺陷列表的位置信息,所述位置信息包含分别指示包含所述缺陷列表的一个或多个记录单元的位置的一个或多个缺陷列表指针;以及(b)如果一个或多个记录单元中的一记录单元是有缺陷的,则将记载在有缺陷的记录单元中的缺陷列表数据重新记录在所述临时缺陷管理区的另一记录单元上,并且在所述临时缺陷管理区上记录更新的位置信息,所述更新的位置信息包含指示所述另一记录单元的位置的缺陷列表指针,而不是包含指示所述有缺陷的记录单元的位置的缺陷列表指针。
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