[发明专利]一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法有效
申请号: | 200910259310.4 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN101726702A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 薛玉雄;田恺;马亚莉;杨生胜;曹洲 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
主分类号: | G01R31/302 | 分类号: | G01R31/302 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 730000*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法,属于空间辐射效应及加固技术领域。在试验中首先监测单粒子翻转时引起的输出脉冲的丢失现象;然后以PWM输出高电平作为闸门控制信号对50MHz的脉冲信号进行计数,可以计算出高电平在测量周期中的时间,最后由MCU计算出PWM输出的占空比;对上传上位机进行监测;将输出信号幅值与PWM的输出脉冲信号的幅值进行比对,将监测结果上传上位机;PWM的输出频率与时钟频率不是2倍的关系,计数器记录,送入MCU进行监测并上传上位机;并在某个标准时间间隔Ts内,对脉冲进行计数,测出与门输出信号重复出现的次数。本发明应用于实验室对空间用PWM单粒子效应性能评估试验中。 | ||
搜索关键词: | 一种 脉宽调制 粒子 效应 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种脉宽调制器单粒子效应试验的测试方法,其特征在于:1)在已知的某个标准时间间隔Ts内,测出被测信号重复的次数N,然后根据f=N/Ts计算出脉宽调制器输出的频率f;脉宽调制器的时钟频率和脉宽调制器的输出频率测量选择相同的测量时基,通过比对在Ts时间间隔内脉宽调制器时钟的计数值和脉宽调制器的输出计数值判断脉宽调制器的输出脉冲的丢失情况,实现监测单粒子翻转时引起的脉宽调制器的输出脉冲的丢失现象;2)选用50MHz的有源晶振作为系统的测量基准;在测量占空比时,以脉宽调制器输出高电平作为闸门控制信号对50MHz的脉冲信号进行计数,计算出高电平在测量周期中的时间,最后由微程序控制器计算出脉宽调制器输出的占空比;3)将脉宽调制器输出的参考电压经变换、12位的串行A/D转换后将数据送入微程序控制器,然后上传上位机进行监测;4)在测试系统测量路中设计了一路稳定的直流模拟输出脉冲信号的电路,将其该输出信号幅值与脉宽调制器的输出脉冲信号的幅值进行比对,将比对数据送入比较器进行比较,出现幅值异常通过计数器记录,然后将数据送入微程序控制器进行监测,最后将监测结果上传上位机;5)在正常情况下脉宽调制器的时钟频率是脉宽调制器的输出频率的2倍,若脉宽调制器的时钟频率不是脉宽调制器的输出频率的2倍时,则脉宽调制器的输出脉冲频率异常,此时计数器记录,然后将数据送入微程序控制器进行监测,最后将监测结果上传上位机;6)将脉宽调制器控制器的两个输出经与门后进行监测,若有脉冲与时钟同步出现的现象,并在某个标准时间间隔Ts内,对脉冲进行计数,测出与门输出信号重复出现的次数,用来监测单粒子翻转时引起的输出脉冲的相序发生变化的现象,其中脉宽调制器控制器的两个输出出现同相序。
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