[发明专利]一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置有效

专利信息
申请号: 200910259350.9 申请日: 2009-12-17
公开(公告)号: CN101876614A 公开(公告)日: 2010-11-03
发明(设计)人: 颜则东;王先荣;王鷁;姚日剑;柏树;冯杰 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
主分类号: G01N5/00 分类号: G01N5/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 张利萍
地址: 730000*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明涉及一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置,属于航空航天技术领域。本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置包括:试验机组柜、真空抽气系统、真空仓、光学样品、石英晶体微量天平探测器、分光光度计、分光光度计窗口、热控样品台、分光光度计监测窗口、石英晶体微量天平监测计算机和机柜。本发明的方法的灵敏度高,达到1.10×10-9~4.42×10-9;试验过程稳定可靠、重复性好,并适用于大规模试验。
搜索关键词: 一种 航天器 光学 表面 非金属材料 出气 污染 原位 监测 装置
【主权项】:
本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置,其特征在于包括:试验机组柜(1)、真空抽气系统(2)、真空仓(3)、光学样品(4)、石英晶体微量天平探测器(5)、分光光度计(6)、分光光度计窗口(7)、热控样品台(8)、分光光度计监测窗口(9)、石英晶体微量天平监测计算机(10)和机柜(11);其连接关系为:真空仓(3)装置安装于试验机组柜(1)上,通过密封管路与真空抽气系统(2)连接;真空抽气系统(2)安装于试验机组柜(1)内部,分光光度计窗口(7)安装分光光度计(6);真空仓(3)内放置石英晶体微量天平探测器(5)和热控样品台(8),其视角为180°;测控系统通过电缆与石英晶体微量天平探测器(5)、热控样品台(8)和分光光度计(6)连接,以控制热控样品台(8)温度,测量真空出气污染;测控系统工作通过石英晶体微量天平探测器软件、热控样品台温度控制软件、分光光度计监测软件来完成。
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