[发明专利]一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置有效
| 申请号： | 200910264830.4 | 申请日： | 2009-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN101726479A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;严成立 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 楼高潮 |
| 地址： | 215000 江苏省昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置，包括一可移动的两维测试平台，可移动的两维测试平台下方设有一高清晰可变焦摄像头，一光谱探测仪，一荧光十字框架，一X荧光射线管，X荧光射线管前端安有一准直器。本发明定位装置应用在下照式荧光分析仪器的测试定位中，可以方便、精确的定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 下照式 荧光 分析仪器 测试 定位 装置 | ||
【主权项】：
一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置，包括一可移动的两维测试平台(5)，所述可移动的两维测试平台(5)下方设有一X荧光射线管(1)，所述X荧光射线管(1)前端安有一准直器(4)，所述可移动的两维测试平台(5)下方还设有一高清晰可变焦摄像头(2)，所述可移动的两维测试平台(5)下方还设有一光谱探测仪(3)，其特征在于：所述可移动的两维测试平台(5)上设有一荧光十字框架(6)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏天瑞仪器股份有限公司，未经江苏天瑞仪器股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910264830.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
