[发明专利]一种横向剪切干涉成像装置有效
申请号: | 200910272266.0 | 申请日: | 2009-09-27 |
公开(公告)号: | CN101694404A | 公开(公告)日: | 2010-04-14 |
发明(设计)人: | 周怀春;吕伟;娄春;朱进容 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01J5/08 | 分类号: | G01J5/08;G02B17/08;G02B27/09 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 方放 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种横向剪切干涉成像装置,属于激光干涉测量装置,解决现有干涉测量装置存在的问题,目的在于具备实时性和简单条纹特性,使用时便于调配且不受强载频影响。本发明包括在光路上依次位于同一条主光轴上的激光光源、扩束准直透镜组和平行平晶;平行平晶入射波面法向与出射波面法向之间构成的偏转角在0°~180°之间可调;扩束准直透镜组口径为40mm~100mm;平行平晶口径为50mm~100mm、厚度为20mm~40mm。本发明元件少、安装和调配过程简单快捷、具备实时性、抗震性强,得到简单的双曝光干涉条纹,适用于光学领域的畸变波面以及工程热物理领域的密度、浓度和温度等参数的实时的无损检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 横向 剪切 干涉 成像 装置 | ||
【主权项】:
一种横向剪切干涉成像装置,包括激光光源、扩束准直透镜组、平行平晶,所述激光光源、扩束准直透镜组和平行平晶在光路上依次位于同一条主光轴上;其特征在于:所述平行平晶入射波面法向与出射波面法向之间构成的偏转角在0°~180°之间可调;所述扩束准直透镜组口径为40mm~100mm;所述平行平晶口径为50mm~100mm、厚度为20mm~40mm。
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