[发明专利]电光调Q激光谐振腔有效

专利信息
申请号: 200910272683.5 申请日: 2009-11-06
公开(公告)号: CN101719627A 公开(公告)日: 2010-06-02
发明(设计)人: 朱长虹;朱晓;齐丽君;朱广志;郭飞 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H01S3/16 分类号: H01S3/16;H01S3/115
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供的电光调Q激光谐振腔,包括全反镜、激光介质、电光调Q晶体和输出镜,激光介质和电光调Q晶体均位于全反镜和输出镜之间,泵浦源采用侧面或端面泵浦方式,其特征在于:电光调Q晶体靠近激光介质的通光面为切割面,该切割面上镀有增透膜层,电光调Q晶体远离激光介质的通光面与所述切割面的夹角等于α或90°-α,α=90°-arctg(n),n为电光调Q晶体的折射率。电光调Q谐振腔内不需要插入布儒斯特起偏镜,减小了插入损耗,提高光学机械稳定性,缩短激光谐振腔长度。该自偏振电光调Q晶体可以是所有用于横向电光效应的电光调Q晶体,如BBO、RTP、LN等。谐振腔内只存在一种偏振状态,特别适合电光调Q的要求,在实际应用中可以起到将电光调Q晶体和布儒斯特镜合二为一的作用。
搜索关键词: 电光 激光 谐振腔
【主权项】:
一种电光调Q激光谐振腔,包括全反镜(1)、激光介质(3)、电光调Q晶体和输出镜(6),激光介质(3)和电光调Q晶体均位于全反镜(1)和输出镜(6)之间,泵浦源(2)采用侧面或端面泵浦方式,其特征在于:所述电光调Q晶体靠近激光介质(3)的通光面为切割面,该切割面上镀有增透膜层,电光调Q晶体远离激光介质(3)的通光面与所述切割面的夹角等于α或90°-α,其中,α=90°-arctg(n),n为电光调Q晶体的折射率。
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