[发明专利]相位激光测距仪及激光测距方法无效

专利信息
申请号: 200910272947.7 申请日: 2009-11-27
公开(公告)号: CN101813472A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 许贤泽;于涛 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00;G01S17/08
代理公司: 武汉天力专利事务所 42208 代理人: 严彦;冯卫平
地址: 430072*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明所提供相位激光测距仪的光路部分可以采用含有双反射镜结构或无双反射镜结构,采用单片机技术自动给出测量结果,包括针对整波长个数部分的搜索处理和针对非整波长部分的相位差检测处理。本发明结构简单,集成度高,可以做成便于携带使用的手持式相位激光测距仪产品,能减轻人们的劳动强度,提高工作效率,同时应用其进行测量具有非接触、精度高、测程远、测速快的优点。
搜索关键词: 相位 激光 测距仪 测距 方法
【主权项】:
一种相位激光测距仪,其特征在于:包括光路部份和电路部份,光路部分采用双反射镜结构或无双反射镜结构,所述双反射镜结构包括有激光发射器、挡板反射器、双反射镜、物镜、凹面反射器、滤光片及探测器,其中挡板反射器置于激光发射器前方,双反射镜、物镜、凹面反射器及滤光片依次置于探测器前方,凹面反射器与挡板反射器位置相应;内光路测量时,激光发射器发出激光,照射到挡板反射器上,再反射到凹面反射器上,再经过滤光片后照射到探测器上,形成内光路;外光路测量时,挡板反射器放下,激光发射器发出激光,发射到双反射镜上,再照射到被测目标,经漫反射到物镜上,再经过滤光片后照射到探测器上,形成外光路;所述无双反射镜结构包括有激光发射器、挡板反射器、物镜、凹面反射器、滤光片及探测器,其中挡板反射器置于激光发射器前方,物镜、凹面反射器及滤光片依次置于探测器前方,凹面反射器与挡板反射器位置相应;内光路测量时,激光发射器发出激光,照射到挡板反射器上,再反射到凹面反射器上,再经过滤光片后照射到探测器上,形成内光路;外光路测量时,挡板反射器放下,激光发射器发出激光,照射到被测目标,经漫反射到物镜上,再经过滤光片后照射到探测器上,形成外光路;电路部份包括控制板和接收板两部分,所述控制板以单片机为核心,设置控制键盘、显示设备和JTAG接口;所述接收板包括压控振荡器、缓冲放大器、混频器和调制激光光源,单片机控制压控振荡器产生高频信号后,经缓冲放大器后分为两路;其中一路同相正弦信号与单片机产生的方波经过混频器后,所得混频信号加在调制激光光源上,通过激光发射器发出激光,沿内光路或外光路发出;另一路反相正弦信号加在探测器上,与经内光路或外光路返回探测器的激光用相干法解调,解调后所保留下携带相位信息的测量正弦信号返回到单片机进行处理。
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