[发明专利]一种数控装置技术指标的检测分析装置

摘要

一种数控装置技术指标的检测分析装置，属于数控装置的测试装置，解决现有数控装置技术指标检测装置对于各类数控装置不通用，以及检测分析的技术指标不全面的问题。本发明包括数据接口、参数设置模块、数据处理模块、模拟反馈模块、分析评价模块、显示模块和测试代码库；数据处理模块对数据接口接收的指令数据进行运算，检测结果输出到分析评价模块和显示模块；参数设置模块设置模拟反馈模块的参数，测试代码库提供各项待测项目标准测试用G代码。本发明利用模拟反馈模块模拟实际伺服驱动、电机和机床特性，计算出相应的反馈数据，排除了实际机电系统不确定性和机床加工性能不一致的影响，能够准确、客观的分析评价数控装置的各项重要技术指标。

主权项

一种数控装置技术指标的检测分析装置，包括数据接口、参数设置模块、数据处理模块、模拟反馈模块、分析评价模块、显示模块和测试代码库，其特征在于：所述数据接口接收数控装置和模拟反馈模块输出的指令数据，将其输出到数据处理模块，所述指令数据包括位控指令数据和逻辑指令数据，位控指令数据包括机床各轴的位置信息，逻辑指令数据包括可编程逻辑控制器PLC的信息、报警信息；所述参数设置模块，设置数控装置待测项目，根据待测项目类别，设置相关模块的参数：对模拟反馈模块的数学仿真模型设置伺服驱动的控制参数、电机和机床传动机构的性能配置参数；对测试代码库设置待测项目的标准测试用G代码中加工试件相关参数；对显示模块设置检测和评价结果的输出方式；所述数据处理模块将接收的指令数据中的位控指令数据分别输出到模拟反馈模块和显示模块；并对接收的指令数据进行处理，将得到的处理结果分别输出到分析评价模块和显示模块；所述模拟反馈模块，根据数据处理模块输出的位控指令数据，建立数学仿真模型，模拟数控系统中伺服驱动、电机和机床的加工特性，所得到的仿真指令数据反馈给数据接口，用于待测项目的检测；所述分析评价模块，将数据处理模块输出的检测结果与测试代码库中标准的加工数据进行对比，并和各个待测项目的行业标准进行对比，得到评价结果输出到显示模块，同时，实时记录并保存检测结果和评价结果；所述显示模块，通过图或表的形式显示数据处理模块输出的检测结果和分析评价模块输出的评价结果；根据数据处理模块输出的位控指令数据显示加工轮廓曲线、跟踪误差曲线和机床加工的三维仿真图形；所述测试代码库，向分析评价模块提供各个待测项目的标准测试用G代码以及标准测试用G代码中加工试件相关参数，同时向数控装置提供各个待测项目的标准测试用G代码。