[发明专利]一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法有效
| 申请号： | 200910273200.3 | 申请日： | 2009-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN101750409A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 周东祥;郑志平;龚树萍;蒙芳;胡云香 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/34 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法，其特征在于，该方法包括下述步骤为：第1步以TlBr为原料，配制Tl(III)的母液，母液中含Tl(III)量为1～3mg/mL；第2步以母液1mL计，在1mL母液中加入10mL浓度为3.6～8.1mol/L的HBr和10～35mL的异丙醚，振荡均匀，静置分层后分离出水相；第3步利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。本发明方法可使溴化铊材料中的基体元素铊的含量达到ICP-MS的测试要求，检测出材料中的各杂质的含量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 溴化铊 材料 杂质 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法，其特征在于，该方法包括下述步骤为：第1步以TlBr为原料，配制Tl(III)的母液，母液中含Tl(III)量为1～3mg/mL；第2步以母液1mL计，在1mL母液中加入10mL浓度为3.6～8.1mol/L的HBr和10～35mL的异丙醚，振荡均匀，静置分层后分离出水相；第3步利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。
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