[发明专利]内存测试方法无效
| 申请号： | 200910300486.X | 申请日： | 2009-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN101814050A | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 童默颖;洪学文;唐庆宗 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种内存测试方法，该方法包括：对内存进行简单数据读写测试；对该内存的数据总线走1/0测试；对该内存的地址总线走1/0测试；及对该内存的随机数据块进行读写测试。本发明提供了一种严谨、全面的内存测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种内存测试方法，包括数据总线走1/0测试及地址总线走1/0测试，其特征在于，在数据总线走1/0测试及地址总线走1/0测试之前，该方法还包括：简单读写测试，包括：a)获取多个未被占用的内存物理地址；b)选择上述其中一个物理地址，向该物理地址所对应的存储空间中写入一个数据；c)将该写入的数据读出；d)判断写入的及读出的数据是否相同；e)若两笔数据不相同，则判定该物理地址所对应的存储空间有问题；f)若两笔数据相同，则进一步判断上述获取的物理地址是否已经全部测试完毕；g)若所获取的物理地址没有全部测试完毕，则返回b)步骤；及h)若所获取的物理地址已经全部测试完毕，则判定该内存的存储空间没有问题。
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