[发明专利]零件形位公差检测系统及方法无效
| 申请号： | 200910301833.0 | 申请日： | 2009-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN101871767A | 公开（公告）日： | 2010-10-27 |
| 发明（设计）人： | 张旨光;吴新元;王敏 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种零件形位公差检测方法，该方法包括如下步骤：(a)获取待测零件的图档及用户从待测零件图档中选择的待测特征元素；(b)对待测零件图档进行三角网格化，获取该待测零件图档的点云数据；(c)获取标准特征元素；(d)从待测零件图档的点云数据中提取拟合成特征元素的点云；(e)将所提取的点云拟合成特征元素；(f)计算拟合的特征元素与标准特征元素之间的形位公差；(g)输出形位公差分析表。利用本发明可以自动检测零件的形位公差。 | ||
| 搜索关键词： | 零件 公差 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种零件形位公差检测方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：(a)获取待测零件的图档及用户从该待测零件图档中选择的待测特征元素；(b)对待测零件图档进行三角网格化，获取该待测零件图档的点云数据；(c)从标准零件图档中获取相对该待测特征元素的标准特征元素；(d)从待测零件图档的点云数据中提取拟合成特征元素的点云；(e)将所提取的点云拟合成特征元素；(f)计算拟合的特征元素与标准特征元素之间的形位公差；及(g)输出形位公差分析表，显示在显示屏上。
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