[发明专利]导电性测试棒无效
| 申请号： | 200910303196.0 | 申请日： | 2009-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN101923127A | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | 蒋文凯 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种导电性测试棒，包括一外壳、一接头、一探棒及一软性探头，所述外壳套设在所述探棒上，所述探棒的尾端和前端均伸出所述外壳，所述接头安装在所述探棒的尾端，所述软性探头安装在所述探棒的前端。本发明导电性测试棒使用软性探头与所述待测保护膜弹性接触，可准确地测试所述待测保护膜的导电性且不会刮伤所述待测保护膜。 | ||
| 搜索关键词： | 导电性 测试 | ||
【主权项】：
一种导电性测试棒，包括一外壳、一接头、一探棒及一软性探头，所述外壳套设在所述探棒上，所述探棒的尾端和前端均伸出所述外壳，所述接头安装在所述探棒的尾端，所述软性探头安装在所述探棒的前端。
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