[发明专利]用于触控装置的侦测触碰位置的方法有效
| 申请号： | 200910304243.3 | 申请日： | 2009-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN101950231A | 公开（公告）日： | 2011-01-19 |
| 发明（设计）人： | 陈柏仰;施博盛 | 申请（专利权）人： | 群康科技（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/045 | 分类号： | G06F3/045 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：提供一触控装置，该触控装置具有第一导电层和设置在第一导电层的一侧边的多个感测电极，这些感测电极彼此相间隔；提供第一电压到第一导电层；触碰触控装置而使第一导电层的一区域的第一电压被改变，其中该区域是对应触碰触控装置的触碰处，触碰处具有一触碰位置；量测这些感测电极而得到多个电压信号；依据这些电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中第二感测位置等于触碰位置，校正模式具有一第一曲线关系。该用于触控装置的侦测触碰位置的方法可有效避免误差的产生。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 装置 侦测 位置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于触控装置的侦测触碰位置的方法，其包括：提供一触控装置，其具有一第一导电层和设置在该第一导电层的一侧边的多个感测电极，该感测电极彼此相间隔；提供一第一电压到该第一导电层；触碰该触控装置而使该第一导电层的一区域的该第一电压被改变，其中该区域是对应触碰该触控装置的触碰处，该触碰处具有一触碰位置；量测该感测电极而得到多个电压信号；依据该电压信号和一位置估算模式而得一第一感测位置；和依据该第一感测位置和一校正模式而得一第二感测位置，其中该第二感测位置等于该触碰位置，该校正模式具有一第一曲线关系。
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