[发明专利]一种高精度激光仪器检测方法无效

专利信息
申请号: 200910310299.X 申请日: 2009-11-24
公开(公告)号: CN102072765A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 孙建华;李宁;何先灯 申请(专利权)人: 西安华科光电有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/42
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 商宇科;李东京
地址: 710075 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种高精度激光仪器检测方法,通过该方法用进行激光仪器的各项技术参数的测量与调校,不仅方便,而且由于参数一旦测定后,其余的激光仪器在测量时的参数初始值是不变的,因此其测量精准,调试简单。
搜索关键词: 一种 高精度 激光 仪器 检测 方法
【主权项】:
一种高精度激光仪器检测方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:1)在欲测量面上,沿垂直方向和水平方向各布置至少三个线阵CCD,使垂直方向上的三个线阵CCD在同一直线上,且相互错开,以不遮挡接收激光为宜;同样,水平方向上的三个线阵CCD在同一直线上,且相互错开,以不遮挡接收激光为宜;2)在该欲测量面上设置一线阵CCD作为近点线阵CCD,通过激光仪测量确保垂直方向上的线阵CCD及与该近点线阵CCD在同一平面上,同样确保水平方向上的线阵CCD与该近点线阵CCD在同一平面上,以确保垂直方向上的线阵CCD所在的面和水平方向的线阵CCD所在的面相互垂直;3)开启激光仪,使激光仪发射的每条激光照射在每个CCD接收头上,根据线阵CCD采集的数据设置激光仪的初始值;4)此后,以该初始值作为激光仪测量的基准进行测量计算。
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