[实用新型]多晶硅结晶质量检测装置无效

专利信息
申请号: 200920028953.3 申请日: 2009-07-06
公开(公告)号: CN201444141U 公开(公告)日: 2010-04-28
发明(设计)人: 刘丰 申请(专利权)人: 济宁凯伦光伏材料有限公司
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/01
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 王建国
地址: 273517 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型公开了一种多晶硅结晶质量检测装置,包括衬底,所述衬底斜上方设置有激光光源,所述激光光源的光路上设置有可形成第一光束和第二光束的分光器,所述第一光束的光路上设置有第一光强度检测器,所述第二光束于衬底的折射光路上设置有第二光强度检测器,所述第一光强度检测器与第二光强度检测器共同连接有计算单元。本实用新型能够快速、精确的检测多晶硅薄膜结晶质量,从而取代原有的破坏性检测方式,更加有效的监控多晶硅薄膜质量,同时还能够提高产能。
搜索关键词: 多晶 结晶 质量 检测 装置
【主权项】:
一种多晶硅结晶质量检测装置,包括衬底,其特征在于,所述衬底斜上方设置有激光光源,所述激光光源的光路上设置有可形成第一光束和第二光束的分光器,所述第一光束的光路上设置有第一光强度检测器,所述第二光束于衬底的折射光路上设置有第二光强度检测器,所述第一光强度检测器与第二光强度检测器共同连接有计算单元。
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