[实用新型]霍尔集成电路动态老化试验装置有效

专利信息
申请号: 200920043265.4 申请日: 2009-06-25
公开(公告)号: CN201449438U 公开(公告)日: 2010-05-05
发明(设计)人: 汪建军;杨晓红;何莲 申请(专利权)人: 南京中旭电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R35/00
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 陈建和
地址: 210012 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 霍尔集成电路的动态老化试验装置,由不锈钢内胆高温干燥箱、磁场交变装置和霍尔集成电路的产品架构成,磁场交变装置和霍尔集成电路的产品架置于不锈钢内胆高温干燥箱内,磁场交变装置由变频调速电机、減速器和传动的转动旋转台构成,旋转台上安装永磁体,变频调速电机连接減速器和转动旋转台。本实用新型高可靠霍尔集成电路在产品筛选过程和质量一致性检验中都要进行高温动态老化试验,即在高温环境中霍尔集成电路处于通电加负载的工作状态,同时霍尔集成电路上必须加上动态的磁场变化,使霍尔集成电路工作在导通、截止的交替变化中以达到动态老化的目的。
搜索关键词: 霍尔 集成电路 动态 老化 试验装置
【主权项】:
霍尔集成电路的动态老化试验装置,由不锈钢内胆高温干燥箱、磁场交变装置和霍尔集成电路的产品架构成,磁场交变装置和霍尔集成电路的产品架置于不锈钢内胆高温干燥箱内,磁场交变装置由变频调速电机、减速器和传动的转动旋转台构成,在旋转台上安装永磁体,设有变频调速电机连接溅速器和转动旋转台。
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