[实用新型]电子元器件的密封性测试设备无效
| 申请号： | 200920067472.3 | 申请日： | 2009-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN201344853Y | 公开（公告）日： | 2009-11-11 |
| 发明（设计）人： | 柳光福;刘启明;陈志安 | 申请（专利权）人： | 上海埃德电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/06 | 分类号： | G01M3/06 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 翁若莹 |
| 地址： | 200237上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种电子元器件的密封性测试设备，其特征在于：所述锅身上分别设有进气阀、出气阀和气压表，所述进气阀连接过气管，过气管上设有减压阀；所述锅盖上固定有盛液槽，锅盖与盛液槽之间设有橡皮垫，盛液槽中部的开口上依次设有钢板、密封圈、橡胶密封垫和压板，压板与盛液槽固定连接，被测器件设在密封圈与橡胶密封垫之间。本实用新型的主要特点是安全、可靠、成本低、效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 密封性 测试 设备 | ||
【主权项】：
1、一种电子元器件的密封性测试设备，包括锅盖(10)和锅身(30)，所述锅盖(10)上设有安全阀(12)、报警阀(13)、上手柄(14)、自锁阀(15)和安全窗(16)，所述锅盖(10)下侧设有橡皮圈(20)，所述锅身(30)上设有下手柄(31)和辅手柄(32)；其特征在于：所述锅身(30)上分别设有进气阀(33)、出气阀(34)和气压表(35)，所述进气阀(33)连接过气管(40)，过气管(40)上设有减压阀(50)；所述锅盖(10)上固定有盛液槽(17)，锅盖(10)与盛液槽(17)之间设有橡皮垫(171)，盛液槽(17)底部中心的开口上依次设有钢板(176)、密封圈(60)、橡胶密封垫(80)和压板(90)，压板(90)与盛液槽(17)底部固定连接，被测器件设在密封圈(60)与橡胶密封垫(80)之间。
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