[实用新型]颗粒缺陷检测器无效
| 申请号： | 200920095808.7 | 申请日： | 2009-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN201402249Y | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | 贺智勇 | 申请（专利权）人： | 天津市恒源传感器技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王融生 |
| 地址： | 300384天津市华*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种颗粒缺陷检测器，有一对相互垂直的投光灯，在每个投光灯的对面各设置一台线阵CCD视觉探头检测器，两个线阵CCD视觉探头检测器分别连接计算机。本颗粒缺陷检测器以两个线阵CCD为检测器件，组成两个相互垂直的二维检测图像，经软件处理可以描绘药粒轮廓，与标准轮廓对比检出有缺陷的药粒(缺损或半片)和异物，经执行机构可将其剔除，同时对正常与缺损药粒分别计数。本装置还可检测一切产品的外形缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 缺陷 检测器 | ||
【主权项】：
1、一种颗粒缺陷检测器，其特征在于：有一对相互垂直的投光灯，在每个投光灯的对面各设置一台线阵CCD视觉探头检测器，两个线阵CCD视觉探头检测器分别连接计算机。
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