[实用新型]用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置无效
申请号: | 200920097044.5 | 申请日: | 2009-06-09 |
公开(公告)号: | CN201413129Y | 公开(公告)日: | 2010-02-24 |
发明(设计)人: | 张联忠;刘敏 | 申请(专利权)人: | 天津力神电池股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/22 | 分类号: | G01B11/22 |
代理公司: | 天津市三利专利商标代理有限公司 | 代理人: | 刘英兰 |
地址: | 300384*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置,包括支架,所述支架垂直设置于显微镜底座一端,显微镜样品台平行置于显微镜底座上,显微镜主体通过支架上横梁,对应设置于显微镜样品台上方,所述螺旋测微器同轴置于显微镜主体上方;显微镜底座前端设有支柱,其右侧设有定位显微镜主体的显微镜固定旋钮,对应显微镜主体设有显微镜调焦旋钮。该装置是调节显微镜的焦距,与电池壳表面对焦,然后用位于支架上的螺旋测微器测量显微镜主体顶部距离,得测量数值L1;用相同的方法再与电池壳刻痕底部对焦,用螺旋测微器测量显微镜主体顶部距离,得到测量数值L2;将L1减去L2,得差值即是电池壳刻痕的深度值。该装置操作简单,测量精确。 | ||
搜索关键词: | 用于 锂离子 方型 电池 刻痕 深度 简易 测量 装置 | ||
【主权项】:
1、一种用于锂离子方型电池铝壳刻痕深度的简易测量装置,其特征在于该装置包括显微镜底座、显微镜样品台、显微镜固定旋钮、显微镜调焦旋钮、显微镜主体、螺旋测微器、支架;所述支架垂直设置于显微镜底座一端,显微镜样品台平行置于显微镜底座上,显微镜主体通过支架上横梁,对应设置于显微镜样品台上方,所述螺旋测微器同轴置于显微镜主体上方;显微镜底座前端设有支柱,其右侧设有定位显微镜主体的显微镜固定旋钮,对应显微镜主体设有显微镜调焦旋钮。
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