[实用新型]用于芯片测试机上的数字模拟混合信号芯片测试卡无效
| 申请号： | 200920097665.3 | 申请日： | 2009-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN201434901Y | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 刘华;赵春莲;姚琳;张超;华锡培 | 申请（专利权）人： | 天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167;H03K19/177;H03M1/12 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300384天津市华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于芯片测试机上的数字模拟混合信号芯片测试卡，该芯片测试卡设有芯片测试电路，芯片测试电路的接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接，通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接，该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接，被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接，该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接，模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。本实用新型设计合理，具有性能稳定、测试速度快、效率高、使用灵活方便等特点，实现对数字模拟混合信号芯片的测试功能。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 测试 数字 模拟 混合 信号 | ||
【主权项】：
1、一种用于芯片测试机上的数字模拟混合信号芯片测试卡，由连接有被测芯片载板的芯片测试卡构成，在芯片测试卡上安装有芯片测试电路，其特征在于：所述的芯片测试电路包括接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及模数转换模块，接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接，通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接，该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接，被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接，该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接，模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。
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