[实用新型]用于TEM样品制备的手动精密研磨抛光器无效
| 申请号： | 200920109691.3 | 申请日： | 2009-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN201537844U | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 廖昭亮;李琳;陈东敏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | B24B9/00 | 分类号： | B24B9/00;B24B49/04;G01N1/32 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种可以精确控制研磨样品厚度的研磨抛光器，该手动研磨抛光器包括主体结构、测微丝杆、三个宝石球。测微丝杆和宝石球设置在主体结构上，测微丝杆由主体结构的中间通孔伸出，测微丝杆的杆顶部平面装载样品，通过调节测微丝杆旋钮可以精确调节研磨样品位置。使用该工具可以在研磨前预设样品待磨厚度，并且可在研磨过程中随时读取已经研磨掉的样品厚度和剩余待磨样品厚度等数据，并可根据上述数据对当前研磨力度和研磨沙纸进行选择，从而能够非常精细地控制研磨过程；还可以减少研磨时研磨底盘与水沙纸之间的亲和力，使研磨更顺滑，手感更好。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 tem 样品 制备 手动 精密 研磨 抛光 | ||
【主权项】：
一种手动精密研磨抛光器，包括主体部分，宝石球和测微丝杆，宝石球固定设置于主体部分下表面的凹坑中，并且全部的宝石球球顶处在一个与主体部分下表面平行定研磨平面上；测微丝杆设置在主体部分中心的通孔中；使用时，试样可拆卸的固定在测微丝杆的端部。
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