[实用新型]一种通用集成电路开短路测试机有效
| 申请号： | 200920132400.2 | 申请日： | 2009-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN201522534U | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 陈贤明;林宽强;黄彩萍 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽格半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518128 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种通用集成电路开短路测试机，将专用集成电路测试机架改造成可测试各种外型尺寸的通用型测试机架，或可测试多种外型尺寸的兼容型测试机架，配套以通用的计算机、测试软件和辅助装置，实现全自动集成电路测试。经改造后的集成电路开短路测试机投入使用后，设备占用的场地减少，设备利用率和测试效率提高，测试成本降低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 集成电路 短路 测试 | ||
【主权项】：
一种通用集成电路开短路测试机，包括计算机和开短路测试软件、辅助装置和测试机架。其特征在于：测试机架设送料架、输料轨道、测试夾和收料槽。
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