[实用新型]可控硅检测电路有效
| 申请号： | 200920134722.0 | 申请日： | 2009-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN201555929U | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | 王勇;吴志明;白清利;刘建伟;董晓勇 | 申请（专利权）人： | 深圳和而泰智能控制股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/02 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种可控硅检测电路，包括一驱动电路、一反馈电路和一单片机，该驱动电路和该反馈电路分别连接该单片机，该反馈电路还连接到该单片机，该驱动电路接收单片机提供的控制信号，并输出对应的反馈信号至该反馈电路，该反馈电路对该反馈信号进行处理后输出至该单片机，该单片机根据接收到的处理后的反馈信号波形变化检测该驱动电路中可控硅是否失效。 | ||
| 搜索关键词： | 可控硅 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种可控硅检测电路，其特征在于：包括一和单片机连接的用于接收单片机提供的控制信号并输出对应反馈信号的驱动电路、一和单片机连接并对反馈信号进行处理的反馈电路和一根据处理后的反馈信号检测该驱动电路中可控硅是否失效的单片机。
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