[实用新型]平面痕迹扫描系统无效
| 申请号： | 200920172951.1 | 申请日： | 2009-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN201481417U | 公开（公告）日： | 2010-05-26 |
| 发明（设计）人： | 刘晋;司书春;胡书良 | 申请（专利权）人： | 刘晋;司书春 |
| 主分类号： | A61B5/117 | 分类号： | A61B5/117 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;朱世定 |
| 地址： | 100038 北京市西城*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型是一种平面痕迹扫描系统，其包括：一光学成像模块，其设置于待测痕迹物证之上，用于倾斜照射所述待测痕迹物证，并产生一反映痕迹物证信息的光信号；一光电转换模块，其与所述的光学成像模块相连，将所述光学成像模块产生的光信号转换成一电信号；一A/D转换模块，其将所述电信号转换成为数字信号，并传递给计算机；一控制模块，其与光学成像模块相连，并控制所述光学成像模块移动，使全面扫描所述待测痕迹物证。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 痕迹 扫描 系统 | ||
【主权项】：
一种平面痕迹扫描系统，其特征在于，其包括：一光学成像模块，其设置于待测痕迹物证之上，用于倾斜照射所述待测痕迹物证，并产生一反映痕迹物证信息的光信号；一光电转换模块，其与所述的光学成像模块相连，将所述光学成像模块产生的光信号转换成一电信号；一A/D转换模块，其将所述电信号转换成为数字信号，并传递给计算机；一控制模块，其与光学成像模块相连，并控制所述光学成像模块移动，使全面扫描所述待测痕迹物证。
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