[实用新型]一种E型磁芯气隙深度测量仪无效
| 申请号： | 200920189902.9 | 申请日： | 2009-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN201429400Y | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 张建兴;周继军;杜立明 | 申请（专利权）人： | 浙江通达磁业有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/18 | 分类号： | G01B5/18 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 | 代理人： | 吴关炳 |
| 地址： | 314407浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种E型磁芯气隙深度测量仪。E型磁芯气隙深度传统测量的方法是用卡尺分别量出边脚高度和中脚高度，然后取其差值。操作麻烦，且容易产生误差。本实用新型由百分表或千分表、测量平台和基座组成，测量平台固定在基座上，测量平台台面平整，中部设有小孔，百分表或千分表固定在测量平台的一侧，其测量头通过小孔伸至测量平台另一侧并能自由伸缩。它大大方便了对E型磁芯气隙深度的测量，而且测量精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 型磁芯气隙 深度 测量仪 | ||
【主权项】：
1.一种E型磁芯气隙深度测量仪，其特征在于：由百分表或千分表、测量平台和基座组成，所述测量平台固定在基座上，所述测量平台表面平整，中部设有小孔，所述百分表或千分表固定在所述测量平台的一侧，所述百分表或千分表的测量头通过所述小孔伸至测量平台另一侧并能自由伸缩。
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