[实用新型]一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置无效

专利信息
申请号: 200920205186.9 申请日: 2009-09-18
公开(公告)号: CN201540244U 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 徐世祥;高艳霞;李景镇 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01J11/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型适用于太赫兹光学领域,提供了一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置;该装置包括起偏器、电光取样晶体、分束器、第一相位补偿器、第二相位补偿器、第一检偏器、第二检偏器和平衡探测器。在本实用新型电光取样装置中,被太赫兹光脉冲调制后的探测光被分成两路;一路经第一相位补偿器、第一检偏器被第一接收器接收;另一路经第二相位补偿器、第二检偏器被第二接收器接收;这样导入平衡探测器的两束光的噪声特性相似,有利于消除背景噪声;调节第一相位补偿器使一路光工作在最佳光学调制度处,调节第二相位补偿器使得两路光的静态双折射相位值互为相反数,这样使得线性工作范围不受静态双折射相位的影响,信噪比也得到最佳化。
搜索关键词: 一种 用于 测量 赫兹 脉冲 电光 取样 装置
【主权项】:
一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置,包括起偏器和电光取样晶体,其特征在于,所述电光取样装置还包括:分束器、第一相位补偿器、第二相位补偿器、第一检偏器、第二检偏器以及平衡探测器;探测光经过所述起偏器后变成线性偏振光并与太赫兹光脉冲在所述电光取样晶体内部重合;所述分束器将透过所述电光取样晶体的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光分成两路;一路依次经过所述第一相位补偿器以及所述第一检偏器被所述平衡探测器的第一接收器接收;另一路依次经过所述第二相位补偿器以及所述第二检偏器被所述平衡探测器的第二接收器接收;所述平衡探测器的输出正比于所述第一接收器以及所述第二接收器接收的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光的功率差、且正比于所述太赫兹光脉冲的光场振幅。
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