[实用新型]一种用于测长机构的自动校正补偿装置有效
| 申请号： | 200920212315.7 | 申请日： | 2009-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN201548204U | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 李志云;滕亮;戴锡春;俞鸣;舒飏;吴珅君;章海波;张宇;陈欣;孙列宁 | 申请（专利权）人： | 上海宝信软件股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 邓序刚 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于测长机构的自动校正补偿装置，包括第一激光测长装置、支架和第一反射板(51)、第一测量头(31)、第二测量头，直线滑轨(4)，所述支架包括第一支架(21)和第二支架(22)，所述第一支架(21)和第二支架(22)均滑动设置在所述直线滑轨(4)上，所述第一反射板(51)固定在所述第一支架(21)上，所述第一激光测长装置(1)固定在第二支架(22)上，所述第一测量头(31)设置在所述第一反射板(51)上，所述第二测量头固定在所述第二支架(22)上。本实用新型采用新型的机械结构，可自动校正并补偿测长机构运动时产生的影响测量精度的不规则动作，从而使激光测长仪得出的数据与被测工件长度完全吻合，达到工艺设计和用户要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 机构 自动 校正 补偿 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测长机构的自动校正补偿装置，包括第一激光测长装置、支架和第一反射板(51)，其特征在于： 还包括第一测量头(31)、第二测量头，直线滑轨(4)，所述支架包括第一支架(21)和第二支架(22)，所述第一支架(21)和第二支架(22)均滑动设置在所述直线滑轨(4)上，所述第一反射板(51)固定在所述第一支架(21)上，所述第一激光测长装置(1)固定在第二支架(22)上，所述第一测量头(31)设置在所述第一反射板(51)上，所述第二测量头固定在所述第二支架(22)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宝信软件股份有限公司，未经上海宝信软件股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200920212315.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：带超声波探伤系统的三坐标测量仪
- 下一篇：接地线挖埋地沟深度检测器
