[实用新型]用于切断芯片内部线路的激光显微镜无效
申请号: | 200920213713.0 | 申请日: | 2009-11-17 |
公开(公告)号: | CN201523007U | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 夏宇 | 申请(专利权)人: | 宜硕科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L23/525 | 分类号: | H01L23/525;G02B21/00 |
代理公司: | 上海唯源专利代理有限公司 31229 | 代理人: | 曾耀先 |
地址: | 201103 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种用于切断芯片内部线路的激光显微镜,其包含有显微镜以及激光发射装置;其中,该显微镜具有一工作平台,可供放置待监测的集成电路芯片;激光发射装置安装于显微镜的上方,其发射的激光可沿显微镜的内侧射至工作平台上的芯片,达到切断显微镜确定的需切断的芯片内部线路的目的;本实用新型利用显微镜确定目标线路位置,方便快捷;且不需要高真空,高电压场环境,操作简易,节约成本,尤其适用于芯片内部线路的大面积处理。 | ||
搜索关键词: | 用于 切断 芯片 内部 线路 激光 显微镜 | ||
【主权项】:
一种用于切断芯片内部线路的激光显微镜,其特征在于在一显微镜上组装有一激光发射装置;其中,该显微镜具有一放置芯片的工作平台;激光发射装置安装于显微镜的上方,其发射的激光可沿显微镜的内侧射至工作平台上。
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