[实用新型]一种通用测试设备有效
| 申请号： | 200920215877.7 | 申请日： | 2009-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN201876522U | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 蒋登峰;魏建中 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310012 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了通用测试设备，其GUI模块从存储器中调用寄存器描述文件，并进行解析，通过GUI模块进行下列操作的一种或几种：(1)读操作：测试模块发出读操作命令，被选中的通用通讯模块模拟并发出相应的接口时序，被测试集成电路对应的接口接收接口时序，将被测集成电路的参数传回GUI模块以用于测试；(2)写操作：测试模块发出写操作命令，被选中的通用通讯模块模拟并发出相应的接口时序，被测试集成电路对应的接口接收接口时序，被测试集成电路解析接口时序，根据接口时序中包含的地址信息对符合地址被测集成电路的寄存器进行写操作。本实用新型可以方便地实现对具有通用通讯接口的被测集成电路的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用 测试 设备 | ||
【主权项】：
通用测试设备，其特征在于包括存储器、GUI模块、测试模块、一个或多个通用通讯模块，所述GUI模块连接测试模块，测试模块连接一个或多个通用通讯模块，(1)由测试模块选择一个或多个通用通讯模块，被选中的通用通讯模块模拟并发出相应的接口时序，被测试集成电路对应的接口接收通用通讯模块发出的接口时序，将被测集成电路的参数传回GUI模块；和/或(2)，由测试模块选择其中一个或多个通用通讯模块，被选中的通用通讯模块模拟并发出相应的接口时序，被测试集成电路对应的接口接收通用通讯模块发出的接口时序，被测试集成电路解析接口时序，根据接口时序中包含的地址信息对符合地址被测集成电路的寄存器进行写操作。
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