[实用新型]邮政总包RFID袋牌质量、性能检测暗室有效
申请号: | 200920216935.8 | 申请日: | 2009-09-25 |
公开(公告)号: | CN201535813U | 公开(公告)日: | 2010-07-28 |
发明(设计)人: | 王复青;段永宁;杨彦;甄青坡;代铁山 | 申请(专利权)人: | 邮政科学研究规划院 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G06K7/00 |
代理公司: | 北京市盛峰律师事务所 11337 | 代理人: | 李贺香 |
地址: | 100096 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种邮政总包RFID袋牌质量、性能检测暗室,它主要是针对目前RFID袋牌在邮政领域的发展引起的袋牌批量检测问题而设计。所述的检测暗室为一个四周封闭的盒子,内壁上贴满由表面呈锥形结构组成的吸波材料(1),在所述的检测暗室的顶部留有安装有RFID阅读器天线的位置。通过本实用新型可以帮助RFID袋牌批量检测设备实现在近距离准确测试RFID标签的真实质量特性,从而实现RFID标签在确保有效性下的重复利用,从而使RFID标签在邮政领域的应用更具可行性。 | ||
搜索关键词: | 邮政 rfid 质量 性能 检测 暗室 | ||
【主权项】:
一种邮政总包RFID袋牌质量、性能检测暗室,其特征在于:所述的检测暗室为一个四周封闭的盒子,内壁上贴满由表面呈锥形结构组成的吸波材料(1),在侧壁的底部开有被测袋牌和传输介质通过的槽(3),在所述的检测暗室的顶部留有安装有RFID阅读器天线的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于邮政科学研究规划院,未经邮政科学研究规划院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200920216935.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:液晶显示屏
- 下一篇:基于ARM9的电网谐波监测系统