[实用新型]邮政总包RFID袋牌质量、性能检测暗室有效

专利信息
申请号: 200920216935.8 申请日: 2009-09-25
公开(公告)号: CN201535813U 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 王复青;段永宁;杨彦;甄青坡;代铁山 申请(专利权)人: 邮政科学研究规划院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G06K7/00
代理公司: 北京市盛峰律师事务所 11337 代理人: 李贺香
地址: 100096 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种邮政总包RFID袋牌质量、性能检测暗室,它主要是针对目前RFID袋牌在邮政领域的发展引起的袋牌批量检测问题而设计。所述的检测暗室为一个四周封闭的盒子,内壁上贴满由表面呈锥形结构组成的吸波材料(1),在所述的检测暗室的顶部留有安装有RFID阅读器天线的位置。通过本实用新型可以帮助RFID袋牌批量检测设备实现在近距离准确测试RFID标签的真实质量特性,从而实现RFID标签在确保有效性下的重复利用,从而使RFID标签在邮政领域的应用更具可行性。
搜索关键词: 邮政 rfid 质量 性能 检测 暗室
【主权项】:
一种邮政总包RFID袋牌质量、性能检测暗室,其特征在于:所述的检测暗室为一个四周封闭的盒子,内壁上贴满由表面呈锥形结构组成的吸波材料(1),在侧壁的底部开有被测袋牌和传输介质通过的槽(3),在所述的检测暗室的顶部留有安装有RFID阅读器天线的位置。
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