[实用新型]线位移与角位移测定装置

摘要

本专利用于测量两个物体之间的相对线位移和角位移。其实现方案是：光接收元件阵列与数据处理器及16路A/D转换模块安装在电路板上；数据处理器的I/O口线连接移位寄存器，移位寄存器通过三极管对光接收元件阵列上的四组光接收元件上电，数据处理器将结果通过Tx、RX输出。本专利采用阵列式测量装置，可以通过离散傅立叶分析方法提高测试精度；局部的油污和灰尘对测试精度的影响被抑制；由于采用光发射元件和光接收元件，使得整个装置的成本大大降低。

主权项

一种线位移与角位移测定装置，其特征在于：光接收元件(2)阵列与数据处理器(4)及16路A/D转换模块(5)安装在电路板(3)上，光调制单元(7)阵列位于光发射元件(1)阵列与光接收元件(2)阵列之间；数据处理器(4)的I/O 线连接移位寄存器(8)，所有移位寄存器(8)依次级联，移位寄存器(8)通过三极管(9)对光接收元件(2)阵列上的四组光接收元件(2)上电，每组光接收元件(2)由四个光接收元件(2)组成，每四组光接收元件(2)的对应位置的光接收元件(2)输出引脚连接，使光接收元件(2)阵列的输出引脚合并为16个，这16个输出引脚连接电阻(10)阵列及16路A/D转换模块(5)的输入，电阻(10)阵列的另一端接地，16路A/D转换模块(5)的输出与数据处理器(4)连接，数据处理器(4)将结果通过Tx、RX输出。