[实用新型]微纳米单粒子阻抗谱测量芯片无效
| 申请号： | 200920256718.1 | 申请日： | 2009-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN201532352U | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 朱晓璐;易红;倪中华 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G01N15/14;C12M1/34 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 叶连生 |
| 地址： | 211109 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 微纳米单粒子阻抗谱测量芯片及测量方法涉及微纳米单粒子(含细胞)的表征技术，特别是微纳米粒子的阻抗谱测量技术。测量芯片中，上盖板(01)是透明材料，透明导电薄膜层(02)位于上盖板(01)的下表面；芯片下基底(09)上设有导电薄膜(08)，在下层导电薄膜(08)上设有光电导层(07)，在电导层(07)上设有绝缘层(06)，在绝缘层(07)上设有单粒子夹持块(05)，间隔层(04)位于上层透明导电薄膜(02)和下层导电薄膜(08)之间，进样口(03)位于上盖板(01)的一侧；单粒子阻抗谱测量方法为先接通用于粒子操控的电压信号，在粒子群所在的区域(11)利用缩微光图案(12)将目标粒子捕获并输运至单粒子夹持子块(051和052)之间的槽中，然后关闭粒子操控电压，接通阻抗谱测量电压，结合动态信号分析仪完成单粒子的阻抗谱测量。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 粒子 阻抗 测量 芯片 | ||
【主权项】：
一种微纳米单粒子阻抗谱测量芯片，其特征在于该阻抗谱测量芯片包括上盖板(01)、上层透明导电薄膜(02)、进样口(03)、间隔层(04)、单粒子夹持块(05)、绝缘层(06)、光电导层(07)、下层导电薄膜(08)、下基底(09)、芯片内部腔体(10)；上盖板(01)是透明材料，透明导电薄膜层(02)位于上盖板(01)的下表面，芯片下基底(09)上设有导电薄膜(08)，在下层导电薄膜(08)上设有光电导层(07)，在电导层(07)上设有绝缘层(06)，在绝缘层(06)上设有单粒子夹持块(05)，间隔层(04)位于上层透明导电薄膜(02)和下层导电薄膜(08)之间且位于绝缘层(06)、光电导层(07)两侧，进样口(03)位于上盖板(01)上。
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