[实用新型]二氧化硫分析仪有效
申请号: | 200920261625.8 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN201600324U | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
发明(设计)人: | 王富生;刘明;马光明 | 申请(专利权)人: | 宇星科技发展(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01N21/33 | 分类号: | G01N21/33 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 李新林 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种二氧化硫分析仪,包括紫外光源,位于紫外光源正前方的滤光片,位于滤光片前方的透镜,该透镜的一个焦点与紫外光源的发光点重合,位于透镜前方与透镜主光轴平行可透光的气体滤波器,位于气体滤波器正前方与透镜主光轴平行可透光的测量室和参比室,位于测量室和参比室前方能分别接收到透过测量室和参比室光信号的二个光电转换器,连接该二个光电转换器并能处理分析由光电转换器传递来的电信号的处理器;本实用新型由于采用高纯度的氮气的气室作为参比室,且气体滤波器在调节装置的带动下旋转,使从滤光片和透镜发射来的平行紫外光束能交替透过高浓度二氧化硫气室或氮气室进入测量室或参比室,本实用新型具有不受其他共存气体干扰,测量精度高、分辨率高等优点。 | ||
搜索关键词: | 二氧化硫 分析 | ||
【主权项】:
一种二氧化硫分析仪,其特征在于:包括紫外光源,位于紫外光源正前方的滤光片,位于滤光片前方的透镜,该透镜的一个焦点与紫外光源的发光点重合,位于透镜前方与透镜主光轴平行可透光的气体滤波器,位于气体滤波器正前方与透镜主光轴平行可透光的测量室和参比室,位于测量室和参比室前方能分别接收到透过测量室和参比室光信号的二个光电转换器,连接该二个光电转换器并能处理分析由光电转换器传递来的电信号的处理器,其中:所述气体滤波器由二个气体滤波单元和调节装置组成,每个气体滤波单元由一个密封的高浓度二氧化硫气室和一个密封的氮气室组成,该气体滤波器在调节装置的带动下旋转,使从滤光片和透镜发射来的平行紫外光线能交替透过高浓度二氧化硫气室或氮气室进入测量室或参比室;所述测量室设置有进气口和排气口,待测气体由进气口进入,由排气口排出;所述参比室为充有高纯度的氮气的密闭气室。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宇星科技发展(深圳)有限公司,未经宇星科技发展(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200920261625.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。