[实用新型]IC封装的扩晶装置无效
申请号: | 200920265045.6 | 申请日: | 2009-12-11 |
公开(公告)号: | CN201608162U | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 李克天;王晓临;刘吉安;欧阳祥波 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/50;H01L21/677 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510006 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型是一种IC封装的扩晶装置,包括片盒供送机构、取片机构和扩晶机构等。片盒供送机构中,在步进电机的驱动下,丝杆旋转,起落架带动片盒一格一格下降移动。每下降一格停止一段时间以便取片机构从片盘中取片。当一个片盒供送完毕,继续从一个新的片盒供片。取片机构仅由一个电动机提供动力,由电磁铁动作配合,完成取片、传片和递片的整套动作。扩晶机构中,晶圆的内圈可以压入外圈,中间夹着胶膜,使硅晶片绷紧,完成箍内外圈的动作。该过程由主气缸提供动力。当内圈压入外圈并到位后,主气缸的活塞杆继续上行,锯齿刀与绷紧的胶膜接触,锯齿尖扎破胶膜,破口处向两齿间撕裂,使得衬架与完成扩晶的晶圆脱离。本实用新型能实现机械化和自动化,生产效率高,且能确保生产质量。 | ||
搜索关键词: | ic 封装 装置 | ||
【主权项】:
一种IC封装的扩晶装置,其特征在于包括有设置在扩晶站(414)内的扩晶机构,其包括下压圈(1)、连接件(2)、上压圈(3)、内圈顶块(4)、内圈(5)、外圈(6)、盖板(7)、衬架(9)、锯齿刀(10)、杠杆板(11)、台面(12)、顶盘(13)、小气缸(16)、橡胶圈(17)、拉杆(18)、下台面(19)、主气缸(20),其中主气缸(20)置于机架的下部,且其活塞与下台面(19)连接,下台面(19)通过支柱及中台面与垫块(15)和顶盘(13)连接,顶盘(13)与置于其下方的拉杆(18)连接,拉杆(18)上装设有上下两块压板,橡胶圈(17)装设在上下两块压板之间,且拉杆(18)上装设的上压板通过两个小顶杆与能将内圈(5)顶入外圈(6)内的圈顶块(4)连接,与硅圆片、胶膜贴成一体的衬架(9)装设在顶盘(13)的外侧,且衬架(9)的上下两侧分别由上压圈(3)和下压圈(1)压紧,上压圈(3)通过连接件(2)与盖板(7)连接,杠杆板(11)的一端通过铰接轴与连接在盖板(7)上的连接件连接,杠杆板(11)的另一端与小气缸(16)的活塞杆连接,盖板(7)与安装在机架的台面(12)连接,顶盘(13)的外侧还装设有能扎破胶膜、使得完成扩晶的晶圆与衬架(9)脱离的锯齿刀(10)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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