[发明专利]测量溴酸根离子的方法和设备有效
| 申请号： | 200980100486.3 | 申请日： | 2009-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN101815938A | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 田中良春;五十岚淑郎;加藤润 | 申请（专利权）人： | 美得华水务株式会社;国立大学法人茨城大学 |
| 主分类号： | G01N31/00 | 分类号： | G01N31/00;G01N21/64;G01N21/78 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 顾晋伟;张耀宏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种溴酸根离子测量方法，该方法与常规溴酸根离子测量方法相比能够更简单和更快速地提供高灵敏度的测量结果。将通过与溴酸根离子共存而猝灭的荧光物质添加到样品(130)中，测量猝灭后荧光物质的荧光强度，并从不含溴酸根离子的标准样品的荧光强度减去所测量的荧光强度来计算荧光强度差。利用预先确定的荧光强度差与溴酸根离子浓度之间的校准线，根据所计算的荧光强度差计算溴酸根离子浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 溴酸 离子 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于测量样品中溴酸根离子的方法，所述方法包括以下步骤：将荧光物质与所述样品混合，所述荧光物质在酸性条件下通过与溴酸根离子共存而猝灭；在所述荧光物质猝灭后测量荧光强度；从不含溴酸根离子的标准样品的荧光强度减去所测量的荧光强度来计算荧光强度差；以及利用预先确定的荧光强度差与溴酸根离子浓度之间的校准线来根据所计算的荧光强度差计算溴酸根离子浓度。
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