[发明专利]绝缘被覆导体检查方法及装置有效
| 申请号： | 200980101622.0 | 申请日： | 2009-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN101910853A | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | 木村英明 | 申请（专利权）人： | 爱信艾达株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01R31/06;G01R31/34 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;阎文君 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种绝缘被覆导体检查方法，用于检查由绝缘被覆导体缠绕形成的线圈(8)中的该绝缘被覆导体的电绝缘特性，将线圈(8)配置于试验容器(10)内，使试验容器(10)内减压，在与线圈(8)之间空出间隙地使电极(21、22)对峙，对电极(21、22)与线圈(8)之间施加交流电压，测定因交流电压的施加在线圈(8)与电极(21、22)之间产生放电的产生频度，在放电的产生频度大于基准产生频度的情况下判定为是电绝缘性优异的合格品，在小于的情况下判定为是电绝缘性存在不良的次品。规定范围优选为放电电荷量为100000(pc)以下的范围。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘 被覆 导体 检查 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种绝缘被覆导体检查方法，用于检查由绝缘被覆导体缠绕而形成的线圈中的该绝缘被覆导体的电绝缘特性，其特征在于，将所述线圈配置于试验容器内，使该试验容器内减压，与所述线圈之间空出间隙地使电极对峙，向该电极与所述线圈之间施加交流电压，测定因交流电压的施加在所述线圈与所述电极之间产生放电的产生频度，在放电的产生频度大于基准产生频度的情况下判定为是电绝缘性优异的合格品，在小于的情况下判定为是电绝缘性存在不良的次品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱信艾达株式会社，未经爱信艾达株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980101622.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：低无源互调失真的可旋转连接器
- 下一篇：制造多个半导体器件的方法和设备
