[发明专利]用以在处理腔室内支撑、定位及旋转基板的设备与方法有效
申请号: | 200980102395.3 | 申请日: | 2009-01-14 |
公开(公告)号: | CN101911281A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 布莱克·凯尔梅尔;亚历山大·N·勒纳;约瑟夫·M·拉内什;凯达尔纳什·桑格姆;库赫斯特·索瑞伯基 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/687;H01L21/205;H01L21/324 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;钟强 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的实施例涵盖处理期间用来支撑、定位及旋转基板的方法、设备和系统。本发明的实施例还包括控制处理腔室内基板与基板支撑件间的传热的方法。在一或多个处理步骤期间,例如快速热处理(RTP)工艺、化学汽相沉积(CVD)工艺、物理汽相沉积(PVD)工艺、原子层沉积(ALD)工艺、干法蚀刻工艺、湿式清洁工艺及/或激光退火处理,所述设备和方法不需复杂、昂贵又常不可靠的组件来正确定位及旋转基板。 | ||
搜索关键词: | 用以 处理 室内 支撑 定位 旋转 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种处理腔室,其至少包含:基板支撑件,包含复数个具一或多个孔的端口,各自接收来自一或多个流量控制器的流体流,其中各个该些端口适以引导接收的该流体朝主流方向,且该主流方向与其他该些端口的主流方向不同;传感器,设置来监视放在该基板支撑件上的基板的位置,该基板支撑件位于该处理腔室的处理区中;以及控制器,用以接收来自该传感器的信号,并适以通过控制来自该一或多个流量控制器并由各个该些端口输送的流体流来控制该基板的位置。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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