[发明专利]利用指示剂颗粒检测靶成分有效
| 申请号： | 200980102880.0 | 申请日： | 2009-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN101925817A | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | T·H·埃弗斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/542 | 分类号： | G01N33/542;G01N33/543 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周铁;刘鹏 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种借助分布在样品中的指示剂颗粒(101)检测所述样品中靶成分(102)的系统和方法。在靶成分能结合到接触表面和/或指示剂颗粒之后，确定指示剂颗粒(101)和接触表面(112)之间的距离(d)。因此，无需指示剂颗粒(101)和接触表面(112)之间的结合就可检测结合的靶成分(102)的量。可选地，指示剂颗粒能够例如通过电磁体(141)受到经调节力的影响。指示剂颗粒(101)和接触表面(112)之间的距离(d)的确定诸如可以通过受抑全内反射、磁场测量或FRET来实现。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 指示剂 颗粒 检测 成分 | ||
【主权项】：
一种用于检测与样品中靶成分(102 402)相关的感兴趣参数的方法，其包括如下步骤：a)在所述样品中分布一些指示剂颗粒(101 401)；b)使靶成分，如果存在的话，结合到所述指示剂颗粒和/或接触表面(112 412)；c)直接地或隐含地确定邻近所述接触表面的区域中指示剂颗粒与接触表面之间的距离(d)，并根据所述距离评估所述感兴趣的参数。
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